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Semicon West USA, San Francisco，–1561展位的一系列創(chuàng)新產(chǎn)品

如果你計劃參加今年在加利福尼亞州舊金山舉行的Semicon West展會，請務必參觀Seica展臺–#1561！Seica USA是Osai Automation Systems和Focused Test Inc.半導體測試解決方案的獨家經(jīng)銷商。Seica與這些聯(lián)合參展商在一個大型展位上合作，提供各種半導體處理和功率、GaN和SiC測試解決方案。而且，作為飛針測試技術的世界引領者，Seica是客戶尋找尖端晶圓、探針卡和電路板測試解決方案的地方。

聚光燈下——Seica的飛針測試儀Pilot VX Next>系列

飛針測試儀Pilot VX Next>系列代表了飛針測試技術的最新前沿；它是那些想要最大性能的人的完整解決方案：最高的測試速度、低到中等體積的測試、最大的測試覆蓋率和靈活性，用于原型設計、制造或修復任何類型的探針卡、晶片、基板或CCA。它的立式結(jié)構(gòu)是同時探測設備兩側(cè)的最佳解決方案。Seica的Pilot VX Next系列將用于測試陶瓷晶片，同樣的配置用于測試當今世界上生產(chǎn)的最復雜的探針/MLO板。

飛針測試儀Pilot VX Next>系列適用于：

晶片測試

探針卡/MLO測試

產(chǎn)品驗證測試

無矢量和電路內(nèi)測試

編程和功能測試

邊界掃描測試

帶自動加載器的中/高容量

高度集成的原型

多品種產(chǎn)品

未設計用于測試的板

反求工程與維修

聚光燈下——聚焦測試公司（Focused Test，Inc.）FTI 1000和FTI2000

Focused Test股份有限公司宣布推出FTI 2000 Power IC測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)將由我們的美國分銷商Seica Inc.在展臺上展出。

FTI2000憑借其每通道板測試儀系統(tǒng)架構(gòu)，為穩(wěn)壓器、電壓轉(zhuǎn)換器和柵極驅(qū)動器等功率IC提供了高吞吐量、低成本和可擴展的測試解決方案。FTI 2000提供最新功率IC的多站點生產(chǎn)、工程表征和故障分析測試所需的高電壓（1000V）、高電流（100A）和100MHz數(shù)字性能。其占地面積小，有效利用了寶貴的測試場地空間。

Focused Test繼續(xù)擴展FTI 1000功率離散測試系統(tǒng)的范圍，以滿足SiC Mosfet和GaN HEMT寬帶隙功率市場的需求，包括更高電壓和更高電流的DC和UIS、Delta Vsd和短路測試。

SEMICON West是全球微電子行業(yè)首屈一指的年度盛會。SEMICON West 2023將于7月11日至13日返回莫斯科會議中心。由于美國政府對《芯片與科學法案》的2.8億美元投資，今年應該比往年更好。請光臨我們的展位#1561，Seica副總裁David Sigillo及其團隊期待并歡迎您參加演示，并幫助您解決最具挑戰(zhàn)性的測試和自動化需求。